电子产品高温试验怎么做?

　　电子产品我们大家都非常熟悉，其使用原理就像基本常识一样深入到人们的生活当中。但是很多类似的品质问题，还是能够得到解决，这就是为什么有的产品卖的那么贵，有的却很便宜，没有经过模拟环境测试的产品其工艺程序都已经减少了很多，在品质方面难以保证。电子产品常用到的模拟环境试验设备包括：恒温恒湿试验箱、高低温试验箱、冷热冲击试验箱、老化试验箱、耐黄变试验箱。

　　在电子整机产品生产厂家里，广泛使用的老化筛选项目有高温存储老化、高低温循环老化、高低温冲击老化和高温功率老化等，其中高温功率老化是目前使用最多的试验项目。高温功率老化是给元器件通电，模拟它们在实际电路中的工作条件，再加上+80~+180℃之间的高温进行几小时至几十小时的老化，这是一种对元器件的多种潜在故障都有筛选作用的有效方法。

　　高温试验

　　参照标准：GB/T2423.1-2001 GB/2423.2-2001本标准叙述的高温试验适用于散热和非散热两类试验样品。

　　试验目的：电子产品在高温下使用或储存的适应性试验设备：CLM GD-500

　　高温工作试验

　　1.试验温度为试验样品的最高工作环境温度。

　　2.试验时间为试验样品在非工作状态下达到温度稳定，然后启动试验样品进行工作， 直至试验样品的温度达到稳定或者按有关标准或技术文件规定进行工作的时间。本高温试验的目的确定件、设备或其他产品在高温环境条件下使用的适应性。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定。则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。相关规范应规定:a)试验箱(室)内温度变化速率;b)试验样品放人试验箱(室)的时间;c)试验样品在试验条件下暴露开始的时间;d)试验样品通电或加负载的时间。对于这些情况，相关规范的制定者可根据GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001选定以上4个参数(包含以上这些情况的修正件在考虑之中)。