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深圳亿博检测机构(EBOTEST)
手机可靠性测试及环境的测试介绍
亿博可靠性测试服务机构一个专业全面的、经验丰富的认证服务机构,已有超过十年的检测认证经验,拥有资深技术团队为您提供全方位检测认证需求,服务热线:135-4327-2595
了解了手机的一般结构之后,在开始结构设计之前,需要清楚地知道一部手机要达到上市的要求需要通过哪些测试,达到什么样的标准。
手机可靠性测试(PRT)的目的是在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,可以在早期预测和评估产品的质量和可靠性。手机结构设计工程师必须通晓可靠性测试的所有标准,在设计阶段就必须采取正确的设计和选择合适的材料来避免后续产品的质量和可靠性问题。手机的入网认证必须经过国家的可靠性测试,而且越来越严格,要求也越来越高,这就对我们的设计提出了更高的要求。
可靠性测试包括六个部分:加速寿命测试,气候适应测试,结构耐久测试,表面装饰测试,特殊条件测试,及其他条件测试。
加速寿命测试ALT (Accelerated Life Test)
样机标准数量: PR1:10台 PR2:12台 PR3:12台 PIR:12台
试验周期: 10-12天
室温下参数测试 (Parametric Test)
温度冲击测试(Thermal Shock)
测试环境:低温箱:-30° C ;高温箱:+70° C
试验方法:手机带电池,设置成关机状态先放置于高温箱内持续45分钟后,在15秒内迅速移入低温箱并持续45分钟后,再15秒内迅速回到高温箱。此为一个循环,共循环27次。实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出,恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。对于翻盖手机,应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:手机表面喷涂无异变,结构无异常,功能正常,可正常拨打电话。
跌落试验(Drop Test)
测试条件:1.5m高度,20mm厚大理石地板。(对于触摸屏手机,跌落高度为1.3m)
试验方法:将手机处于开机状态进行跌落。对于直握手机,进行6个面的自由跌落实验,每个面的跌落次数为1次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,进行8个面的自由跌落实验;其中一半样品合上翻盖按直握手机的方法进行跌落,另一半样品在跌正面和背面时须打开翻盖。跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。
振动试验(Vibration Test)
测试条件:振幅:0.38mm/振频:10~30Hz;振幅:0.19mm/振频:30~55Hz;
测试目的:测试样机抗振性能
试验方法:将手机开机放入振动箱内固定夹紧。启动振动台按X、Y、Z三个轴向分别振动1个小时,每个轴振完之后取出进行外观、结构和功能检查。三个轴向振动试验结束后,对样机进行参数测试。
试验标准:振动后手机内存和设置没有丢失现象,手机外观,结构和功能符合要求,参数测试正常,晃动无异响。
湿热试验(Humidity Test)
测试环境:60° C,95%RH
测试目的:测试样机耐高温高湿性能
试验方法:将手机处于关机状态,放入温湿度实验箱内的架子上,持续60个小时之后取出,常温恢复2小时,然后进行外观、结构和功能检查。对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:手机外观,结构和功能符合要求。
静电测试(ESD)
测试条件:+/-4kV~+/-8kV,开机并处于充电状态,+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次。具体测试方法详见公司测试标准细则。
测试目的:测试样机抗静电干扰性能
试验标准:在+/-4Kv 和 +/-8Kv时出现任何问题都要被计为故障。
气候适应性测试 (Climatic Stress Test)
样品标准数量:一般气候性测试 5 台; 恶劣气候性测试 3 台。共8台。
测试周期:7 天。
测试目的: 模拟实际工作环境对产品进行性能测试。
A. 一般气候性测试:
高温/低温参数测试(Parametric Test)
测试环境:-25° C /+55°C;持续2小时;手机电池充满电,手机处于开机状态。
测试目的:高温/低温应用性性能测试
试验方法:对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:手机电性能参数指标满足要求,功能正常,外壳无变形。
高温高湿参数测试(Parametric Test)
测试环境:+45° C,95%RH;持续48小时;手机电池充满电,手机处于开机状态。
测试目的:高温高湿应用性性能测试
试验标准:手机电性能指标满足要求,功能正常,外壳无变形。
高温/低温功能测试(Functional Test)
测试环境:-40° C /+70°C,2小时,恢复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。
测试目的:高温/低温应用性功能测试
B:恶劣气候性测试
灰尘测试(Dust Test)
测试环境:室温,灰尘大小300目,持续3个小时。详细测试方法见公司测试标准细则。
测试目的:测试样机结构密闭性
试验标准:手机各项功能正常,所有活动元器件运转自如,显示区域没有明显灰尘。
盐雾测试(Salt fog Test)
测试环境:35°C; 5%的氯化钠溶液;关机;合上翻盖;样机用绳子悬挂起来;48小时。
测试目的:测试样机抗盐雾腐蚀能力
试验标准:常温干燥后,手机各项功能正常,外壳表面及装饰件无明显腐蚀等异常现象。
.结构耐久测试 (Mechanical Endurance Test)
样品标准数量:11 台。
测试周期:7 天。
测试目的:各结构件寿命测试。
按键测试(Keypad Test)
测试环境:室温(20~25° C);2台手机;手机设置成关机状态。
测试方法:导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。
试验标准:手机按键弹性及功能正常。
侧键测试(Side Key Test)
测试环境:室温(20~25° C);1台手机;手机设置成关机状态;10万次按压。
试验标准:手机按键弹性及功能正常。
重复跌落测试(Micro-Drop Test)
测试环境:室温(20~25° C);7cm高度 ,20mmPVC板;2台手机;开机状态;4万次。
测试标准:手机各项功能正常,外壳无变形、破裂、掉漆,显示屏无破碎,晃动无异响。
充电器插拔测试(Charger Test)
测试环境:室温(20~25° C);2台手机。
试验方法:将充电器接上电源,连接手机充电接口,等待手机至充电界面显示正常后,拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。
检验标准:I/O接口无损坏,焊盘无脱落,充电功能正常。无异常手感。
触摸屏点击试验 (Point Activation Life Test)
试验条件:触摸屏测试仪(接触垫尖端半径为3.75mm;硬度为40deg的硅树脂橡胶)
试验方法:2台手机;将手机设置为开机状态,点击同一位置250,000次,点击力度为250g;点击速度:2次/秒;
检验标准:不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤
电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test)
测试环境:室温(20~25°C);2台手机;将电池/电池盖反复拆装2000次。
检验标准:手机及电池卡扣功能正常无变形,电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象,外观无异常。
SIM Card 拆装测试(SIM Card Test)
测试环境:室温(20~25°C);2台手机;SIM卡插上取下反复1000次。
检验标准:SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,手机读卡功能使用正常。
耳机插拔测试(Headset Test)
测试环境:室温;2台手机;开机状态;耳机插入耳机插孔再拔出,3000次。
检验标准:实验后检查耳机插座无焊接故障,耳机插头无损伤,使用耳机通话接收与送话无杂音(通话过程中转动耳机插头),耳机插入手机耳机插孔时不会松动(可以承受得住手机本身的重量)。
表面装饰测试 (Decorative Surface Test)
测试周期:4 天。
样品标准数量:每种颜色6 套外壳。
磨擦测试(Abrasion Test - RCA)
测试环境:室温(20~25°C);
试验方法:将最终喷涂的手机外壳固定在RCA试验机上,用175g力队同一点进行摩擦试验。对于表面摩擦300cycles,侧面和侧棱摩擦180 Cycles。
检验标准:耐磨点涂层不能脱落,不可露出底材质地。
特殊条件测试 (Special Stress Test)
样品标准数量:4 台。
测试周期:1 天。
低温跌落试验(Low temperature Drop Test)
测试环境:-10°C;3台手机;开机状态。
试验方法:将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-10° C的低温试验箱内1小时后取出,进行1.3米的6个面跌落,2个循环,要求3分钟内完成跌落,方法同常温跌落。
检验标准:手机外观,结构,功能和电性能参数符合要求。
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