高加速寿命测试

                  
定义：

HALT 是“高加速寿命测试”（Highly Accelerated Life Testing）的英文缩写，

其是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT 所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。

测试意义：

是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。现已成为电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。

试验目的：

1、通过系统地施加工作应力和逐步增大的环境应力，来激发故障，暴露产品设计中的薄弱环节，为开发人员改进产品设计方案提供依据，以对产品设计缺陷进行及时的修正。

2、提高产品在使用过程中的壮实度，保证产品圆满的无故障的完成任务；

3、估计产品的工作极限和破坏极限，评估产品在实际使用条件下的可靠性，并为HASS的应力类 型和应力量级的选择提供依据。

测试样品要求：

样品需具有代表性，测试中样品的功能监控设备需要客户自备

测试产品：

电源、 通讯发射/接受、空调控制器板、车载系统（DVD、音响、多媒体接收系统），继电器（电子元件）、电脑主板、电机（散风扇）等